透射波前誤差測試設備（TWE）
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TWE主要用于評估光通過時光學元件的性能。準直光穿過DUT后，等相位平面波發生變化所產生的與理論平面之間的誤差由波前傳感器檢測到，通過計算可以得到PV、RMS、MTF、像差等結果。
無損精測
非接觸式無損檢測，不傷產品分毫
智控軟件
定制化軟件功能，按需求輸出統計圖表
速換銷釘
插拔式定位銷釘，可快速切換以兼容不同尺寸產品
納米精度
高解析度，測量精度10nm RMS
碼上追溯
支持產品讀碼追溯
靈便操控
手動上下料，自動化測試
非接觸式無損檢測，不傷產品分毫
智控軟件
定制化軟件功能，按需求輸出統計圖表
速換銷釘
插拔式定位銷釘，可快速切換以兼容不同尺寸產品
納米精度
高解析度，測量精度10nm RMS
碼上追溯
支持產品讀碼追溯
靈便操控
手動上下料，自動化測試
精準視控
輔助視覺定位系統，準確捕捉測試區域
輔助視覺定位系統，準確捕捉測試區域
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