HiPA正創新研發應用于硅光晶圓產品的硅光晶圓測試儀，此儀器可全自動測試硅光晶圓內設計的有源 / 無源硅基光電子微器件 (光波導，光調制器，光電探測器) 的光電特性并對測試結果做分析整理。在半導體檢測領域，HiPA將持續研發各類高精度檢測儀器，以滿足日益增強的市場需求。